超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀是一種先進的科學儀器，用于測量顆粒的粒徑分布和Zeta電位。這種分析儀結(jié)合了超聲法和電聲法的優(yōu)勢，提供了寬廣的檢測范圍和高精度的測量結(jié)果。

　　在技術優(yōu)勢方面，超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀具有幾個顯著的特點。首先，它無需試劑配制，且測量過程中無色、無味，對環(huán)境友好。其次，該分析儀操作簡單方便，測量精度高，重復性好，可以為用戶提供可靠的數(shù)據(jù)支持。此外，它能夠檢測粒徑范圍廣，覆蓋納米至微米級別，并且適用于各種形狀的顆粒。同時測量溫度、電導率、PH等參數(shù)的功能，進一步增加了其實用性。特別值得一提的是，該分析儀具有自動進樣功能，可以快速高效地進行樣品處理，大大提高了工作效率。

　　在技術參數(shù)方面，超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀提供了多個型號以供選擇，包括APS-100、ZA500、ZetaAPS等。每個型號都有其的性能參數(shù)，如頻率范圍、電壓范圍、電流范圍等。這些參數(shù)確保了分析儀能夠適應不同的工作環(huán)境和樣品需求。

　　具體來說，APS-100型號采用超聲法原理，粒度檢查范圍為5nm至1000μm，頻率范圍為1MHz至100MHz，適用于廣泛的粒徑分布測量。而ZA500和ZetaAPS型號則采用ESA電聲法或超聲電聲法原理，具有更高的靈敏度和測量精度。它們能夠同時測量Zeta電位、粒度分布、溫度、電導率等多個參數(shù)，并且具有寬廣的樣品酸堿性范圍(PH 0-14)。

　　此外，該分析儀還配備了插入式Zeta電位傳感器和自動電位滴定系統(tǒng)，可以在樣品池和獨立容器中進行切換測量，準確高效地測試IEP指標。設備模塊化設計使其堅固耐用、操作簡單、維護方便。

　　總的來說，超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀以其技術優(yōu)勢和技術參數(shù)，為顆粒和界面科學研究提供了有力的工具。